本书从对颗粒体系与颗粒表征的一般知识介绍出发，通过对光散射理论的实用性讨论，系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法，如光散射技术和光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法，涵盖了近期新的技术发展以及市场上近期新的仪器产品，对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也有专门的介绍。 本书适合于颗粒表征和光学领域的科研人员、高校教师和学生、企业相关技术人员阅读。

第1章 颗粒体系与颗粒表征  001
1.1 颗粒与颗粒体系  001
1.2 样品制备  006
1.2.1 取样过程  006
1.2.2 获取实验室样品  007
1.2.3 实验室样品的缩分  009
1.2.4 最少待测样品量  011
1.2.5 样品分散  012
1.3 颗粒测量数据及其统计分析  018
1.3.1 数据的统计表达形式  018
1.3.2 基本统计参数  022
1.3.3 平均值  024
1.3.4 颗粒表征中的等效球  027
1.3.5 分布的分辨率  029
1.3.6 测量质量  030
参考文献  032

第2章 光散射的理论背景  035
2.1 光散射现象与技术  035
2.2 光散射理论要点  039
2.2.1 光散射几何  039
2.2.2 单个颗粒的光散射  040
2.2.3 颗粒的时间平均散射强度  053
2.2.4 颗粒的散射强度涨落  054
2.3 其他光学技术  059
2.3.1 静态光散射  059
2.3.2 浊度法  062
2.3.3 背散射测量  064
2.3.4 颗粒场图像全息法  064
2.3.5 穿越时间测量  065
2.3.6 飞行时间测量  066
2.3.7 聚焦光束反射法  066
2.3.8 频率域光子迁移  067
2.3.9 相位Doppler法  067
2.3.10 荧光相关光谱  068
参考文献  069

第3章 光学计数法  081
3.1 引言  081
3.2 仪器构造  083
3.2.1 光源  085
3.2.2 体积测量仪的光学  085
3.2.3 原位光谱仪的光学  088
3.2.4 光学响应  088
3.2.5 样品部分  093
3.2.6 电子系统  097
3.3 测量结果与数据分析  098
3.3.1 校准  098
3.3.2 光学颗粒计数器参数测量  101
3.3.3 粒径测量下限  102
3.3.4 粒径测量的准确性  103
3.3.5 粒径测量分辨率  104
3.3.6 计数的效率与准确性  105
3.3.7 液体监视器的数据分析  107
参考文献  108

第4章 激光粒度法  113
4.1 引言  113
4.1.1 粒径测量上限  115
4.1.2 粒径测量下限  116
4.2 仪器  121
4.2.1 光源  122
4.2.2 样品处理模块  123
4.2.3 收集光学  127
4.2.4 探测系统  135
4.2.5 仪器校准与验证  139
4.3 数据采集与分析  141
4.3.1 数据采集  141
4.3.2 数据分析  143
4.3.3 折射率效应  148
4.3.4 浓度影响  152
4.4 测量准确度与准确性  153
4.4.1 分辨率与准确度  153
4.4.2 测量准确性  155
4.4.3 颗粒形状效应  157
参考文献  161

第5章 光学图像分析法  169
5.1 引言  169
5.2 图像获取  171
5.2.1 入射光部分  171
5.2.2 静态图像法样品导入  173
5.2.3 动态图像法样品导入  174
5.2.4 图像采集设备  179
5.3 图像分析  181
5.3.1 分割  181
5.3.2 边缘及阈值  184
5.3.3 边缘上的颗粒  185
5.4 颗粒形状表征  187
……

许人良，20世纪80年代早期前往美国，在杨振宁曾任教的学校获博士学位。曾在多家跨国企业内任研发、市场与管理等职位，为国际标准化组织资深专家与中国国家标准化管理委员会3个标准化委员会委员，为美国标准测试材料学会与化学学会的获奖者。 在纳米技术，科学仪器，胶体化学，材料表征，企业管理各项领域浸染近40多年，发表70篇论文与专利，以及颗粒表征专著Particle Characterization: Light Scattering Methods，索引4500以上（有发表清单）。美国ASTM贡献奖；美国化学会best博士论文奖，美国狄县多元文化奖，美国米乐玛市终身贡献奖 。1993年即为ISO专家及委员，长期担任ISO TC24/SC4 WG17 Convenor与WG7 Vice Convenor，主持及执笔过多个国际标准。曾为美国麦克仪器公司中国区总经理，资深首席科学家；美国贝克曼科尔特仪器公司颗粒技术商务部主任；英国马尔文仪器公司亚太区技术总监 。中国颗粒学会理事；中国颗粒学会颗粒测试专业委员会常务理事 ?全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会（SAC/TC168）委员；全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会颗粒分技术委员会（SAC/TC168/SC1）委员；全国微细气泡技术标准化技术委员会（SAC/TC584）委员 。多本专业杂志审稿人（包括Particuology, Langmuir, Powder Technology, Journal of Applied Phycology, Journal of Visualized Experiments, Analytical Chemistry等）。曾为华东理工大学、上海师范大学兼职教授