本书是现代X射线光谱分析综合性参考书。全书共分十七章，系统介绍X射线的物理基础、基本性质、激发、色散、探测与测量，波长色散与能量色散光谱仪，基体效应、光谱背景和谱线重叠，样品制备，定性与半定量分析，实验校正法、数学校正法定量分析，薄膜和镀层厚度分析、应用实例及分析误差与不确定度等内容。附录列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、相关数据等，供读者参考使用。 \n
本书适用于冶金、地质、矿山、建材、检验检疫、石油、化工、环境、农业、生物、食品、医药、文物及考古等部门从事X射线光谱分析的专业人员及相关工程技术人员参考，同时适用于高等院校相关专业师生、研究生及科研院所工程技术人员参考。
第1章X射线的物理基础001 \n
1.1X射线的定义001 \n
1.2X射线光谱002 \n
1.2.1连续X射线光谱002 \n
1.2.2原子结构及轨道能级004 \n
1.2.3特征X射线光谱007 \n
1.2.4莫塞莱定律008 \n
1.2.5特征X射线光谱强度间的相对关系009 \n
1.3俄歇效应：伴线010 \n
1.4荧光效应：荧光产额011 \n
参考文献012 \n
第2章X射线的基本性质013 \n
2.1X射线的散射013 \n
2.1.1相干散射014 \n
2.1.2康普顿散射015 \n
2.2X射线的衍射与偏转017 \n
2.2.1布拉格衍射原理017 \n
2.2.2X射线的偏转019 \n
2.2.3镜面反射020 \n
2.2.4全反射020 \n
2.3X射线的吸收021 \n
2.3.1质量吸收或衰减系数022 \n
2.3.2质量吸收或衰减系数与波长及原子序数的关系023 \n
2.3.3吸收限及临界厚度023 \n
2.3.4反平方定律025 \n
参考文献026 \n
第3章X射线的激发027 \n
3.1初级激发027 \n
3.2次级激发028 \n
3.2.1单色激发028 \n
3.2.2多色激发029 \n
3.3互致激发（次生激发）031 \n
3.4激发源032 \n
3.4.1放射性同位素033 \n
3.4.2同步辐射光源035 \n
3.4.3X射线管036 \n
3.4.4二次靶038 \n
参考文献039 \n
第4章X射线的色散040 \n
4.1概述040 \n
4.2波长色散040 \n
4.3能量色散042 \n
4.4非色散044 \n
参考文献047 \n
第5章X射线的探测048 \n
5.1概述048 \n
5.2气体正比型探测器049 \n
5.3探测器的光电转换参数055 \n
5.4闪烁计数器058 \n
5.5固体探测器059 \n
5.5.1锂漂移硅［Si（Li）］探测器060 \n
5.5.2珀尔贴（Peltier）效应062 \n
5.5.3Si?PIN探测器063 \n
5.5.4硅漂移探测器（SDD）064 \n
5.5.5高纯锗（Ge）探测器064 \n
5.6探测效率及能量分辨率065 \n
5.6.1量子计数效率065 \n
5.6.2能量分辨率067 \n
5.7各种常用探测器的比较070 \n
参考文献071 \n
第6章X射线的测量073 \n
6.1测量系统073 \n
6.1.1概述073 \n
6.1.2前置放大器074 \n
6.1.3主放大器074 \n
6.1.4脉冲高度选择器075 \n
6.1.5脉冲高度分布曲线077 \n
6.1.6多道脉冲分析器（MCA）079 \n
6.1.7脉冲高度分布的自动选择081 \n
6.1.8定标器及定时器082 \n
6.1.9微处理机082 \n
6.2测量方法082 \n
6.2.1定时计数（FT）法083 \n
6.2.2定数计时（FC）法083 \n
6.2.3最佳定时计数（FTO）法084 \n
参考文献085 \n
第7章波长色散X 射线荧光光谱仪086 \n
7.1概述086 \n
7.2波长色散光谱仪的基本结构086 \n
7.2.1X光管087 \n
7.2.2准直器091 \n
7.2.3辐射光路092 \n
7.2.4分光晶体093 \n
7.2.5平面晶体色散装置098 \n
7.2.6弯曲晶体色散装置099 \n
7.2.7测角仪101 \n
7.3探测器102 \n
7.4脉冲高度分布及脉冲高度分析器103 \n
7.5定标计数电路105 \n
7.6测量参数的选择106 \n
参考文献109 \n
第8章能量色散X射线荧光光谱仪110 \n
8.1概述110 \n
8.2光谱仪结构111 \n
8.2.1能量色散探测器112 \n
8.2.2多道脉冲高度分析器114 \n
8.2.3滤光片及其选择117 \n
8.2.4X光管120 \n
8.3通用型能量色散光谱仪120 \n
8.4三维光学能量色散光谱仪122 \n
8.4.1偏振原理123 \n
8.4.2二次靶124 \n
8.5谱处理技术127 \n
8.5.1光谱数据的基本组成128 \n
8.5.2谱处理的基本步骤133 \n
8.5.3常用的谱处理方法135 \n
8.6能量色散X射线荧光分析技术的特殊应用147 \n
8.6.1全反射X射线荧光光谱分析（TXRF）147 \n
8.6.2同步辐射X射线荧光光谱分析（SRXRF）152 \n
8.6.3微束X射线荧光光谱分析（μ?XRF）153 \n
参考文献159 \n
第9章基体效应161 \n
9.1概述161 \n
9.2基体效应162 \n
9.2.1吸收?增强效
高新华，教授级高级工程师，长期从事X射线光谱学与光谱分析研究工作、仪器研制及培训。科研方向：X射线荧光光谱分析涉及物理、化学、电子光学、X射线学、电子学、数学等专业。
